“国立故宫博物院”文物底片 RFID 辨识概念性验证
作者:李明兴
来源:台湾“经济部”RFID公领域应用推动办公室
日期:2009-12-02 09:01:50
摘要:国立故宫博物院所典藏的底片约有10万片,且每年约有2,000张的新增底片,经常因学术研究、月刊、底片授权使用等目的,底片进出频率甚为频繁。而过去大多以人力手动输入之方式进行借出去、查询及盘点,较为耗时及作业成本,且因底片本身皆放置于一底片外袋中,于大量的借出入时会发生底片错置外袋的可能,加上若可以一次大量辨识底片则可以改善现有的盘点模式,将可以达到正确快速的盘点目标。
“国立故宫博物院”所典藏的底片约有10万片,且每年约有2,000张的新增底片,经常因学术研究、月刊、底片授权使用等目的,底片进出频率甚为频繁。而过去大多以人力手动输入之方式进行借出去、查询及盘点,较为耗时及作业成本,且因底片本身皆放置于一底片外袋中,于大量的借出入时会发生底片错置外袋的可能,加上若可以一次大量辨识底片则可以改善现有的盘点模式,将可以达到正确快速的盘点目标。
在本次概念性验证的技术需求上,仍需维持现有作业之一次大量借出入,所以,RFID应用要辅助作业人员可以利用读取器直接辨识底片本身之电子标签而及外袋。验证上的重点则在找出可以直接贴附于底片的电子标签,此外,标签背面的接着剂需为无酸胶以避免毁坏底片,此外,因为故宫存放底片的方式都非常的紧密,思考如何达成快速盘点目的,则电子标签须可以达到堆叠读取之效能。
概念性验证内容
本次概念性验证内容分为三个阶段包含:基本性能测试、实验室模拟测试及实际导入测试。其包含读取距离、外袋材质读取效能、堆叠方式及读取效能、底片贴附标签进行扫描测试。
(一) 贴附底片电子标签选用
一如前述,找出可以直接贴附于底片的电子标签是本次验证重点之一。
本次验证根据厂商提供之电子标签进行测试,一共有三个频段分别是HF、UHF及2.45GHz,但因底片边缘可进行RFID贴附之空间有限,现有HF、UHF标签过大,不符条件。本验证所得选用日晶科技所提供的2.45G Mu chip,其标签大小为长*宽为5.1mm * 1.5mm,如图1所示。另一方面无酸接着剂的部份,于本次验证亦有负责化学材料的亚洲日信针对该电子标签进行无酸胶的开发,因ISO国际规定的无酸纸PH值介于7-9之间,而本次概念性测试的PH值介于7-8.5,符合于ISO标准之内。
然而,在底片外袋上则较无尺寸的限制。惟,考量成本与市面既有设备下,本次盘点应用使用UHF及HF两种频段进行应用测试时,测试的三种不同的堆叠方式,其示意如下图所示:
于“国立故宫博物院”底片库进行的验测流程及情境为图6所示,包含为新增底片、储存、底片借出及归还和盘点作业,一次大量借出入的作业考量是验测流程设计的重点。
新增底片作业测试系统画面如图7所示,主要于底片、外袋及该文物底片资料进行资料之连结,于该笔资料之登录号查询出资料后,进行底片及外袋RFID电子标签ID的读取后进行资料连结即可。
底片借出入作业须确定底片本身及外袋ID,并输入借用人申请资料,如图8中所示,读取底片本身ID无须抽出外袋,再于下个步骤读取保存外袋的电子标签ID,以确定两者没有错置,并于归还时一样进行读取底片和外袋的ID后系统可以直接带出该借用申请资料,若是读取底片ID和保存外袋是错置而非当然借出的ID,则归还时系统不会带出借用申请资料。
基于本来底片库所使用的底片储存方式于金属材质内,若是使用手持式读取设备直接读取柜内的底片较为困难,且读取效果不佳。
未来相关应用建议
于本次验证的观察若标签为密集读取时,若需使用UHF后建议标签于贴附于标的物时,采交错贴附之方式,减少金属材质对于标签读取上的影响,而此次采用HF设备符合ISO 18000-3 Mode 2标准,于标签密集堆叠能有效读取,该标准能满足密集堆叠之数量盘点的应用所需。而于导入的现场测试阶段,于查询、于查询、借出及归还时,系统画面可带出该底片之图档,以便底片进出库房时可以再次确认底片及系统上显示的图片是否相同,并于盘点时的画面除了可以显示欲盘点的底片外,亦可以显示出错置的底片相关讯息。
(文/经济部RFID公领域应用推动办公室.李明兴专案经理)
在本次概念性验证的技术需求上,仍需维持现有作业之一次大量借出入,所以,RFID应用要辅助作业人员可以利用读取器直接辨识底片本身之电子标签而及外袋。验证上的重点则在找出可以直接贴附于底片的电子标签,此外,标签背面的接着剂需为无酸胶以避免毁坏底片,此外,因为故宫存放底片的方式都非常的紧密,思考如何达成快速盘点目的,则电子标签须可以达到堆叠读取之效能。
概念性验证内容
本次概念性验证内容分为三个阶段包含:基本性能测试、实验室模拟测试及实际导入测试。其包含读取距离、外袋材质读取效能、堆叠方式及读取效能、底片贴附标签进行扫描测试。
(一) 贴附底片电子标签选用
一如前述,找出可以直接贴附于底片的电子标签是本次验证重点之一。
本次验证根据厂商提供之电子标签进行测试,一共有三个频段分别是HF、UHF及2.45GHz,但因底片边缘可进行RFID贴附之空间有限,现有HF、UHF标签过大,不符条件。本验证所得选用日晶科技所提供的2.45G Mu chip,其标签大小为长*宽为5.1mm * 1.5mm,如图1所示。另一方面无酸接着剂的部份,于本次验证亦有负责化学材料的亚洲日信针对该电子标签进行无酸胶的开发,因ISO国际规定的无酸纸PH值介于7-9之间,而本次概念性测试的PH值介于7-8.5,符合于ISO标准之内。
图1、本验证所用2.45G Mu chip
图2、本验证于裕华彩艺印刷厂进行实地测试
图3、本验证测试电子标签贴附位置
然而,在底片外袋上则较无尺寸的限制。惟,考量成本与市面既有设备下,本次盘点应用使用UHF及HF两种频段进行应用测试时,测试的三种不同的堆叠方式,其示意如下图所示:
图4、底片盘点应用测试三种不同的堆叠方式
图5、可进行堆叠读取的堆叠方式
于“国立故宫博物院”底片库进行的验测流程及情境为图6所示,包含为新增底片、储存、底片借出及归还和盘点作业,一次大量借出入的作业考量是验测流程设计的重点。
图6、验测流程及情境
新增底片作业测试系统画面如图7所示,主要于底片、外袋及该文物底片资料进行资料之连结,于该笔资料之登录号查询出资料后,进行底片及外袋RFID电子标签ID的读取后进行资料连结即可。
图7、新增底片作业测试系统画面
底片借出入作业须确定底片本身及外袋ID,并输入借用人申请资料,如图8中所示,读取底片本身ID无须抽出外袋,再于下个步骤读取保存外袋的电子标签ID,以确定两者没有错置,并于归还时一样进行读取底片和外袋的ID后系统可以直接带出该借用申请资料,若是读取底片ID和保存外袋是错置而非当然借出的ID,则归还时系统不会带出借用申请资料。
图8、底片借出入作业测试系统画面
基于本来底片库所使用的底片储存方式于金属材质内,若是使用手持式读取设备直接读取柜内的底片较为困难,且读取效果不佳。
图9、直接读取柜内的底片较为困难 图10、将底片置于容器内再行读取
图11、于查询、于查询、借出及归还时系统可带出该底片之图档
未来相关应用建议
于本次验证的观察若标签为密集读取时,若需使用UHF后建议标签于贴附于标的物时,采交错贴附之方式,减少金属材质对于标签读取上的影响,而此次采用HF设备符合ISO 18000-3 Mode 2标准,于标签密集堆叠能有效读取,该标准能满足密集堆叠之数量盘点的应用所需。而于导入的现场测试阶段,于查询、于查询、借出及归还时,系统画面可带出该底片之图档,以便底片进出库房时可以再次确认底片及系统上显示的图片是否相同,并于盘点时的画面除了可以显示欲盘点的底片外,亦可以显示出错置的底片相关讯息。
(文/经济部RFID公领域应用推动办公室.李明兴专案经理)