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RFID产品折旧测试监控系统

作者:上海安珍物联网科技有限公司
来源:RFID世界网
日期:2016-07-12 09:02:36
摘要:本系统将RFID技术应用于产品老化测试监控,基于2.45G RFID技术,实现对产品在老化测试过程中的测试进度进行实时监控等功能。
关键词:RFID监控系统

  系统介绍

  本系统将RFID技术应用于产品老化测试监控,基于2.45G RFID技术,实现对产品在老化测试过程中的测试进度进行实时监控等功能。

  系统架构

  1. 将电子标签与各个待测产品进行关联。

  2. 当待测产品(含2.45G RFID标签)进入老化测试机房内时,无线接收器将产品开始测试时间记录下来。

  3. 后端系统通过产品老化测试原则比对测试区域中的各个产品,当超过老化测试时间则闪烁电子标签的指示灯告知已经测试完毕。

  4. 系统可实时更新测试完成列表发送至测试管理人员即时处理。

  系统特点

  1. 避免产品老化测试时间误差。

  2. 提升老化测试效率。

  1. 将电子标签与各个待测产品进行关联。

  2. 当待测产品(含2.45G RFID标签)进入老化测试机房内时,无线接收器将产品开始测试时间记录下来。

  3. 后端系统通过产品老化测试原则比对测试区域中的各个产品,当超过老化测试时间则闪烁电子标签的指示灯告知已经测试完毕。

  4. 系统可实时更新测试完成列表发送至测试管理人员即时处理。

  系统特点

  1. 避免产品老化测试时间误差。

  2. 提升老化测试效率。