RFID综合测试仪（13.56MHz）

产品详情：

　　RFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线(基于ISO/IEC14443 Type A, Type B, ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡)，以及非接触IC卡(ISO/15693Tag-It, I-CODE SLI), IC标签的共振频率，Q值和插入损耗(insertion loss)进行检测，根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。

　　检测频率： 500KHz ～ 300MHz

　　测定项目： 不同的制品，通过制作对应的检测天线，可以检查各式制品

　　○ 共振频率 ○非接触式IC卡

　　○ 衰减量 ○NFC搭载的制品

　　○ Q值 ○着装芯片之前的RFID天线

　　通过设定各个待测项目的设定值进行检测，并可以通过保存测量特性波形及测定值，管理RFID产品的品质。