智网信测推出下一代RFID综合测试解决方案

RFID技术作为物联网技术的重要一环，在物品标识与数据采集方面有着十分重要的地位，随着物联网的蓬勃发展，RFID技术的测试需求正在经历着深刻的变革。

紧跟行业趋势，智网信测以匠心打造了下一代RFID综合测试解决方案，为RFID技术的研发与应用提供强大助力。

RFID技术演进与测试挑战

技术演进

1 无源反向散射通信的深度优化

新一代RFID采用无源反向散射通信，通过收发分离降低自干扰，使通信距离大幅提升；对反向散射信号的处理更加精细，可在复杂电磁环境中准确提取有用信号，具备更强抗干扰能力。

2 从单点到组网式架构

RFID 读写器的收发功能分离为激励器和接收器，实现了前向链路与反向链路的解耦，支持组网部署，提升了系统效率和覆盖范围。

3  多技术融合与协同通信

采用全新的蜂窝式架构和协议，可以利用5G基站射频信号作为能量源，实现广域无源物联网覆盖；还可以结合超宽带（UWB）反向散射技术，实现厘米级定位精度。

4 协议与标准全面升级

新一代 RFID 技术逐渐采用全球统一的标准协议，如 5G-A 无源物联网采用 3GPP 标准。

测试新挑战

然而，新一代RFID技术也为测试技术带来诸多新挑战。

1 性能测试方面

需要实现更低的检测灵敏度，以应对自干扰消除难题；同时，要支持更大的系统接入容量，做好干扰协调。

2 一致性测试方面

不同标准的 RFID 设备进行一致性测试，增加了测试系统的复杂性；新一代 RFID 测试的复杂性，增加了自动测试系统的设计和开发面临诸多挑战，包括测试脚本的编写、测试设备的控制和协同、测试结果的自动分析和判断等。

3 互操作性方面

系统结构复杂、分布式激励器以及多种激励器模拟的引入，导致互操作性测试难度大幅上升；另一方面，全新的标签读取协议也增加了互操作测试的复杂性。

面对RFID技术的新特征与新挑战，  

智网信测正式推出“下一代RFID综合测试平台”！  

综合测试平台架构

1 硬件架构设计

智网信测下一代RFID综合测试平台，采用全新硬件架构设计。

发射机模拟IQ信号及干扰自消除信号的产生；接收机完成IF信号采样；时钟发生及分配模块，精准管理与分配系统参考时钟，保障同步精度；采用Sync-E技术实现多主机同步；多激励器外扩通过同步控制模块实现，支持分布式拓扑与多制式同步。

2 软件架构设计

测试应用层提供丰富服务，涵盖RFID测试服务，通过调用测试接口，完成协议与硬件配置。RFID协议引擎可模拟读卡器或标签的协议行为，实时处理引擎则负责数字信号处理相关工作。

主要测试项目

测试场景

场景1：

模拟读卡器测试-兼容MoBC

场景2

模拟标签测试-支持外接负载调制或反向散射调制电路

场景3

BiBC/AmBC 模拟读卡器测试

场景4

BiBC/AmBC 模拟标签测试

场景5

协议嗅探器Sniffer-宽带Power detector

总结

智网信测推出的下一代RFID综合测试解决方案，具备创新的硬件架构、全面的软件功能以及丰富的测试方案，能够应对RFID技术演进与测试挑战，满足复杂场景下的测试应用，助力RFID技术在研发与生产环节的快速迭代，为物联网产业发展提供坚实支撑。