如何全面测试RAIN RFID读写器？

UHF RFID也称为RAIN RFID正在许多不同的行业中兴起。虽然对于零售业来说，标签比读写器多千倍，但在某些行业中，这一现象恰恰相反。特别是在汽车工业和生产中，读写器数量庞大，因此对提高读写器的准确性和读取率有着强烈的需求。CISC RAIN RFID Xplorer就是一种涵盖实验室和生产测试设备的解决方案，满足对读写器灵敏度、单独相位和变化不敏感性的高要求。

众所周知的是读写设备的核心组成部分是读写器芯片和天线，读写器芯片主要功能是按照协议进行发射和接收。从物理特性的角度来说，发射功率和接收灵敏度的关系就变得非常的重要了，RFID Xplorer可通过非接的方式连接标签仿真模块和读写器，通过调整发射功率来侦测接收灵敏度的变化，同时也可以设定时间长度对灵敏度的稳定性做个长时间的监控。所有这些物理特性的测试都遵循ISO/IEC 18046-2标准来进行，同时参考了最新的RAIN RFID RAIN Reader Sensitivity testing的测试方式读取EPC的90%通过率的接收灵敏度点。

除了测试发射功率与灵敏度的关系，BLF和接收灵敏度容限关系的测试是反映在标签BLF变化对读写器灵敏度的影响。RFID Xplorer的标签仿真模块可以完全模拟标签BLF的变化，改变BLF的步长来验证读写器是否存在容限缺陷。

实际上在实际应用中读写器天线与标签芯片等相关关键器件间的阻抗匹配也会影响读写器的灵敏度特性，CISC阻抗仿真器作为读写器测试设备的选件可以模拟匹配不完美的天线，这些天线可能由于生产公差或周围射频环境的变化而产生。RFID Xplorer通过软件控制改变自身输入阻抗来完成，并可以在阻抗不完美的情况下评估读写器特性。与此同时标签信号相位的变化也对读写器灵敏度产生很大影响，选择RFID Xplorer的移相器与读写器测试仪配合可以模拟0-360度相位变化得到不同相位的读写器接收灵敏度，这可以更容易完善读写器的硬件设计。

几种需要的测试可以合并进行，例如BLF、相位、阻抗都是可以做叠加测试，这样可以在多个维度来评估读写器灵敏度是否存在缺陷。

当完成了所有这些没有配置天线的读写器测试后，可以安装上自己心仪的不同天线，进行读写器灵敏度的非接测试，看是否能与读写器当初设计和之前有线的模拟天线特性测试的灵敏度相符。

因此，要完整的去评估一个RAIN RFID读写器的接收灵敏度，首先一定是需要遵循标准认可的测试方法和规范，围绕Tx Power、BLF、相位、阻抗匹配等方向来多维度验证未接天线的读写器灵敏度的容限，确认有线测试结果并优化设计后可以设计或配上匹配的天线，测量灵敏度的无线接收灵敏度特性。

其实这些都是读写器的物理特性，很多时候软件或固件工程师会更关注时序和指令统计相关的数据，RFID Xplorer的监听器拥有读写器指令触发、指令分析、先进指令统计功能，是特别适合软件工程师们分析软件问题的工具。