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深圳市物联网产业协会承办的“星火沙龙”精彩回顾 | 详解 UHF RFID读写器及应用测试规范及方法!

作者:莫问
来源:深圳市物联网产业协会
日期:2020-11-07 09:14:06
摘要:11月4日下午,由深圳市科学技术协会主办,深圳市物联网产业协会承办的以“UHF RFID读写器及应用测试规范及方法”为主题的《自主创新大讲堂---星火沙龙之物联网产业大讲堂系列活动(10场)》深圳市南山区科技园社区长园新材料港5栋1楼成功开讲。现场共吸引了60多位物联网领域专业的技术研发人员前来交流学习。

11月4日下午,由深圳市科学技术协会主办,深圳市物联网产业协会承办的以“UHF RFID读写器及应用测试规范及方法”为主题的《自主创新大讲堂---星火沙龙之物联网产业大讲堂系列活动(10场)》深圳市南山区科技园社区长园新材料港5栋1楼成功开讲。现场共吸引了60多位物联网领域专业的技术研发人员前来交流学习。

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本期讲座主讲嘉宾罗海涛,从2002年开始从事电子测试及研发工作,在测试测量领域拥有十多年的丰富经验,现于深圳市唐领科技有限公司担任总经理一职。

本讲课程,罗老师围绕超高频RFID的测试标准,RFID系统测试的重难点等内容进行专题分享与讨论。罗老师从RAIN RFID的概述入手,从RFID测试的相关标准开始讲起,介绍了“RAIN RFID标签性能及规范性测试方法”和“RAIN RFID读写器性能及规范性测试”;着重强调并分享了“RAIN RFID系统测试中需要特别留意的关注点”。

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在讲座中,罗老师重点分享了RAIN RFID标签/读写器的性能及规范性测试的方法。

在标签部分,罗老师从传统的测试方式开始,引出标签性能测试的主要流程及测试中需要测试的激活功率、读距、反向功率、反向距离、操作距离、场强等主要参数,并且特别指出测试中需要着重关注“校准(以便提高测试的精度,了解环境干扰的频点等内容)”、“对参考读写器发射功率和接收灵敏度数据设置的确认”;同时还分享了读取范围和影响范围的极限因素及规范性标签与真实产品的不同点等内容。

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在读写器性能测试部分,罗老师重点分享了不同参数、相位、BLF的不耐受性对读写器灵敏度的影响。

讲座最后,罗老师与众嘉宾分享了本次讲座的重点:RAIN RFID系统性能主要依赖于“标签的最小功率和反向强度”、“读写器的发射功率和接收灵敏度”、“影响识别率和读取范围的协议设置及软件”等方面的性能;在测试中至少需要获得到“标签与读写器之间通信的实际内容”及“Q值、响应次数、冲突次数等”相关信息。

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讲座的精彩之处在于,罗老师每一个重点知识点分享完成后都与嘉宾们一同探讨了该方面的实际应用过程中的困难点,并且给出了相应的参考解决方案或可参考解决方向。

回顾整场讲座,大部分参与人员表示受益良多,并希望以后有更多机会参加此类活动。

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