【译】Comprion推出NFC测试及故障排查系统

　　测试解决方案提供商Comprion在本周德国纽伦堡召开的嵌入式世界大会上推出一款名为CL Development的NFC测试产品。该系统可用于验证接口设计、执行功能测试或验证互操作性。

　　Comprion表示，NFC市场上新技术层出不穷，大多数NFC设备尚未按照通用标准进行测试。该公司解释说，标准往往不会面面俱到，NFC应用需要符合其自身规范。功能NFC系统(如访问控制和非接触式支付系统)通常通过手机进行扩展，因此会存在兼容性问题。单独测试后，NFC模块可以集成到车门把手、终端或机器中，这些材料也可能对NFC产生干扰。

　　Comprion公司NFC测试解决方案开发负责人Michael Jahnich在一份准备好的声明中说：“这些问题都会导致严重的后果，甚至导致产品召回。这些问题可以在开发阶段早期进行测试来避免。” CL产品专为NFC开发测试而设计，可用于以下领域：

　　预先一致性测试，可减少昂贵的测试实验费用：符合EMVC和NFC论坛的测试平台可确保NFC设备符合规范并为其认证做好准备，这样可以减少测试室中昂贵的实验费用。

　　功能测试，用于定制NFC设备测试：借助API，可以编写和运行定制测试。通过这种方式，移动网络运营商或应用开发商可以确保NFC设备符合其特殊要求。

　　互操作性测试，可查找到错误原因：发生问题时，该产品可以显示问题信息。分析软件可以定位潜在的错误来源并解决问题。

　　设计验证，以优化设计：该解决方案可以识别磁场形式及强度，从而对设计优化提供建议。同时，该功能还可以识别和移除由周围材料引起的干扰因素。

　　CL开发产品是一个模块化系统，由不同的硬件和软件组件组成，可配置为匹配特定的测试案例。Jahnich在准备好的声明中表示：“客户无需为不使用的软件和功能付费，只需为实际需要的软件和功能付费。同时，该系统还可以通过添加更多组件来扩展，以便覆盖其他应用领域。”