唐领科技罗海涛：RFID系统级测试探秘

　　8月16日，2017第12届RFID世界应用创新大会在深圳会展中心隆重举办。本次大会共邀请了300余家RFID行业产业链各环节的优秀企业、行业权威专家、RFID终端用户代表共同参与，剖析行业发展方向，共同探索行业发展新模式。在本次大会上，深圳市唐领科技有限公司营销总监罗海涛先生以《RFID系统级测试探秘》为主题，与会场观众进行了精彩的演讲。

深圳市唐领科技有限公司营销总监罗海涛先生

　　RFID标签是由RFID天线与RFID芯片构成的，而RFID标签和读写器就构成了整个RFID系统。在RFID测试标准里面，RFID标签和读写器的测试有规范性测试(包括时序、波频、频谱等)和性能测试(包括反向功率、读距、反向距离等)，RFID系统则包括效率测试和互操做性测试。

　　传统的RFID测试方式，首先在天线上，使用网络分析仪(VNA)去测试是没办法测试出功率等级的变换，其次是不能接收读写器发出不同指令的能量，同时当天线和芯片匹配在一起时，会发生输入阻抗的变化。其次在协议上，使用频谱分析仪去测试，但在标签性能如激活功率、读取范围，读写器接收灵敏度、读写器和标签仿真等问题都没办法测试。而如果使用矢量信号源+示波器+频谱分析仪+软件等方式去测试，不仅程序复杂而且价格也很高。

　　为此，罗总在会上一一介绍了RFID在标签及标签芯片、读写器、系统的各种测试方式。

　　标签及标签芯片的测试方式，一是性能测试，它会涉及到校准及环境、激活功率、反向功率等，当测试所选择的天线、指令(Query, Read EPC)、发射功率设置及摆放位置的不同，也会导致测试结果的不相同。二是方向性测试，不同角度的标签导致其性能差别很大。除此之外，还有全自动规范性测试生成测试报告，当通过自动化规范性测试软件了解到不合格的项目之后，针对不合格的项目可以对具体的波形、时序、频谱进行分析，标签存取测试如读/写内存测试等，快速了解标签或标签芯片存在的规范性问题。

　　接着在读写器的测试方式，在性能测试上，独立标签测试需要标签回复(仿真标签)去确认读写器可以识别的标签的响应，并且读写器可以改变标签的参数变量如 BLF变量(反向链路频率)和占空比变量等，最后会呈现出可以支持频率和整个功率范围的读写器性能。而在规范性测试上，通过仿真标签及Rx天线接收来自读写器的信号，可以分析每个指令的内容、波形、时序等，且可以设置指令触发并长时间记录数据流。

读写器接收灵敏度及读取成功率

　　RFID系统测试方式，其系统性能依赖于标签性能、读写器性能和协议设置和软件这几方面。系统测试需要获得相关的信息，如标签与读写器之间通信的实际内容，需要读写器指令及标签响应时序、指令去触发分析;通信内容统计需要Q值、响应次数、冲突次数等去读取标签次数并进行指令统计。

　　罗总表示，CISC提供完整的RFID测试方案，该方案包括了标签性能测试系统、标签方向性测试系统、标签规范性测试系统(自动化及手动)、读写器性能测试系统、标签仿真及监听测试系统、通信分析及场强记录系统以及TIPP等。