CISC宣布推出标签测试仪器RFID Xplorer

　　CISC公司宣布推出标签测试仪器RFID Xplorer，可用于测试RAIN RFID标签的性能及一致性。该系统为世界各地的检测标准提供了测试技术，同时提供了一种方法来描述不同标签的物理属性。

　　Xplorer标签性能测试仪的标签数量分析工具可让用户在图上查看标签的最低响应功率。标签。这样，用户便可对方案进行优化并发现特定应用场景的潜在弱点。

　　针对自发测试，该系统可在场内进行标签检测。该系统会进行频率扫描，以作为读取器与标签之间的读取读取范围评价基础。结果可以以XML或TXT文件格式进行保存。

　　频率扫描结果可生成为一个累积分布函数，同时显示标签响应功率，反向散射功率，读取范围及反向散射范围。同时，用户还可以选择自己关注的载波频率和显示度。

　　用户还可在CISC RFID Xplorer标签仿真器及嗅探器及CISC RFID Xplorer标签性能测试仪中启用干扰分析工具，以便在800MHz到1GHz频率范围内分析可能的干扰。

　　用户可使用CISC RFID Xplorer标签仿真器及嗅探器导入RFID通信XML文件。其中的通信分析工具则可对该XML文件进行分析。系统将对每一轮查询的响应数量，空时隙和冲突的数量进行分析，同时跟踪读卡器与标签通信的Q值。

　　CISC RFID Xplorer标签仿真器及嗅探器中的RF场记录仪将测量RF传感器模块所在场的功率。这样可以实现RF场和环境设置的实时测量。该工具集成在CISC RFID Xplorer标签仿真器及嗅探器内。所测量的场数据可以在单独的XML文件中记录或与RF场特性和通信数据一起进行保存。