如何应用CISC RFID Xplorer软件检测超高频标签性能

    超高频电子标签的外观看似简单，其实不然，每一个电子标签从生产到出库都需经过很多工序，并且每个工序都必须严格控制，才能使成品标签满足设计要求和客户使用需求。今天和大家一起学习超高频标签检测技术环节中关于CISC RFID Xplorer软件（CISC, VBL, SITTERA, IRIS,XMINNOV ）将如何应用呢？

1、CISC RFID Xplorer设备部件及测试环境
CISC RFID Xplorer设备的部件包含检测天线、放置平台、角灵敏度旋转器、支架、被测标签。测试环境是专业大型RFID微波暗室。



2、标签的频点灵敏度测试方法
在CISC RFID Xplorer的软件里先导入跟芯片协议对应的参数配置和标签要测试的频率范围参数。

被测标签要放置在距检测天线50cm处的放置平台上，选择Frequency Sweep即可启动软件测试标签的性能曲线。测试结果例如图1。可通过软件中的坐标曲线，能明确的知道该标签中心点在哪个频点，且该频点的性能是多少。

图1

点软件里Display Metric里的Read Range(m) 功能，就可以根据上面的性能曲线软件自动模拟出该标签在各个频点的读取距离，例如图2
 

图2

3、标签的角灵敏度测试方法
角灵敏度测试方法的软件设置参数和标签放置位置同频点灵敏度测试方法一样，然后选择Orientation Sweep即可启动软件开始测试。测试结果例如图3。从图中可以知道标签在不同角度读取时，读取距离是不一样的。可以帮助我们更好的避免操作人员贴标时的误操作。
 

图3

结论
通过CISC RFID Xplorer软件可以非常有效的测试出超高频标签的各项性能指标，对产品的质量管控和天线的设计研发有非常大的帮助。



厦门英诺尔信息科技有限公司对产品的要求和把控极其严格，所有产品出库前都会经过严格的质量检测，除了应用CISC RFID Xplorer软件检测外还配合性能检测设备，以此来保障超高频电子标签性能及质量，真正做到满足客户需求。

依靠不断创新，英诺尔已成为国内为数不多的拥有 “一站式”电子标签解决方案能力的物联网企业，从标签选型、天线设计、天线制造、芯片封装、二次复合、模切成型、个性化打码、性能检验及数据初始化等实现“一站式”服务，已为国内外众多优秀的系统解决方案商提供一流的产品与服务。