NFC-Forum东京成员大会 F2F会议分享

　　2014年10月5日至10月10日NFC-Forum在日本东京召开了今年第三次成员大会。

　　这次会议着重对授权实验室新的测试能力的授权及要求，新测试政策的更新与实施，互操作测试的操作实施方案进行了激烈的讨论，各家成全各抒己见，推动NFC Forum继续更好的向前发展。

　　会议首日，全球授权实验室集聚一堂，针对目前正在进行的onsite audit和ILCT进行了热烈讨论。因为这两个项目的进行密切关系到后续实验室提供认证能力的时间，所以，实验室的同仁们针对已经遇到的和可预见的一些问题进行了讨论，并达成了一致的解决方案。

　　会议第二天，在全员开幕大会上，NFC论坛的各个工作组重点总结汇报了前一次成员会议到现在在认证测试标准更正、制定，市场推广，国际化和产业化方面的重大工作进展;并对NFC的组织结构做了相对更好的调整，增加了新的工作组进来，包括SNEP/LLCP TF;会议期间，各个工作组针对即将发布的射频测试工具，测试技术标准更新与制定，认证政策制定和产品市场化等一系列专题讨论会议，与各会员单位进行了深入交流，加强了会员单位之间的互动，同时在企业之间架起了一条沟通的桥梁。

　　新技术：

　　NFC-V技术

　　NFC Forum新加入了NFC-V技术，即Near FieldCommunication – Type V Technology。

　　对于NFC-V，参考的是ISO 15693标准。作为轮询设备时，射频信号采用脉冲位编码的100% ASK调制方式。

　　NFC-V作为聆听设备时，使用Manchestercoding with OOK subcarrier modulation。

　　在对于冲突概念的定义中，NFC-V的冲突定义和NFC-B，NFC-F相同。对于NFC-A，冲突定义为‘0’和‘1’的位置叠加。【参考文献1】【参考文献1[DIGITAL].】。对于NFC-B，NFC-F和NFC-V，冲突的定义为由于多个响应同时发出导致的传输错误。

　　NFC-V的轮询指令INVENTORY_REQ。对应的，针对NFC-V技术，产生了Type 5 Tag。包含了防碰撞指令。

　　认证测试内容最新动态

　　From 8st of September, LLCP and SNEP will beactivated!

　　LLCP: 25 Test cases

　　SNEP: 24 Test Cases

　　From 29th of July, Analog Testing is required for devices

　　certifying to Device Requirements v1.2 or higher

　　• Effective 1 January 2015, the NFC Forumwill introduce a series of changes to the Certification Policy. The changesinclude:

　　• New rules for inheritance

　　• New processes for rolling out features

　　• New processes for implementing updates to existing test cases

　　• To ensure all stakeholders have sufficient time to adjust to the changes,the Forum is making available to members a preview copy for theirreview.

　　• Through the end of 2014, products will continue to be certifiedunder the existing Certification Policy rules.

　　从2015年1月1日起，新的认证规则将会出炉。