密码芯片专家齐聚深圳探讨密码芯片测评技术

中国密码学会理事长裴定一教授致辞

　　中新网9月21日电 9月15日，中国密码芯片领域的专家、学者以及企业界人士齐聚深圳“2011密码芯片分析和测评技术论坛”，共同探讨密码芯片分析和测评技术方向的最新学术成果、工程化热点、产业动态及发展趋势。

　　密码芯片领域的专家、学者表示，信息技术越来越广泛地影响我们生活、工作的方方面面，信息安全的重要性也日益凸显。作为信息安全的一个重要组成部分，密码芯片在数字安全领域中也得到广泛运用，第二代居民身份证芯片系统就是一个成功的案例。同时，密码芯片在金卡工程、三网融合、智能电网、物联网等领域也都发挥着重要作用。国家十二五规划重点提到完善信息安全标准体系和认证认可体系，密码学的相关安全标准体系和认证体系无疑是其中最重要的部分，“2011密码芯片分析和测评技术论坛”上有关密码芯片分析和测评技术的研究成果将有利地促进这个关键产品的发展和完善。

　　“2011密码芯片分析和测评技术论坛”由中国密码学会密码芯片专业委员会主办，国民技术股份有限公司承办。中国密码学会理事长裴定一教授、副理事长徐茂智、秘书长强志军，国家密码管理局商用密码管理办公室副主任安晓龙以及从事密码芯片分析和测评方面学术研究、应用技术开发的专家学者、行业精英出席了本次论坛。

　　中国密码学会理事长裴定一教授、国家密码管理局商用密码管理办公室安晓龙副主任及国民技术股份有限公司总经理孙迎彤在会上分别致辞。裴定一理事长代表中国密码学会做开场致辞，提出中国密码学会密码芯片专委会的主要工作就是要组织多种形式的密码芯片的论坛与研讨会，加强科研与开发单位的交流，搭建起产学研结合的平台，加速密码芯片科研成果的转化，提高我国密码芯片的技术水平。安晓龙副主任则在会上号召密码芯片界的朋友团结起来，齐心协力，一起来为社会、经济的安全做好保驾护航工作。孙迎彤总经理感谢中国密码学会给国民技术提供承办此次论坛的机会，国民技术将在论坛上把密码芯片测评技术，尤其是侧信道攻击方面的一些心得体会与所有与会者分享。

　　华南理工大学丁津泰教授、国民技术股份有限公司张翌维博士、中国信息安全认证中心崔占华博士、清华大学软件学院向东教授、中国信息安全测评中心张翀斌主任、上海市信息安全测评中心陈清明总监、艾特赛克信息技术有限公司刘岩总经理、西班牙APPLUS+ LGAI实验室认证测评专家Alexis Bouquet博士及荷兰分析设备供应商Riscure Jing Pan博士分别在论坛上做主题报告。

　　丁津泰教授介绍了国外对硬件的攻击和防御以及对未来会怎么样发展的一些看法;国民技术张翌维博士做题为“密码芯片分析中的关键技术”报告，并现场演示智能卡芯片的毛刺注入分析和安全芯片的激光错误注入分析，展示了国民技术对安全芯片安全性分析技术的强大实力;崔占华博士介绍了“我国智能卡安全认证情况”，对国内EAL认证状况，存在问题以及未来发展趋势进行了深入探讨;上海市信息安全测评认证中心陈清明总监从芯片EAL测评国家标准出发，探讨了芯片安全性检测与分析技术与标准之间的对应关系;艾特赛克信息技术有限公司刘岩总经理深入介绍了美国FIPS 140-2体系及该体系对芯片安全性提出的要求;西班牙APPLUS+ LGAI实验室认证测评专家Alexis Bouquet博士与嘉宾们深入探讨了目前国际公认最难，含金量最高的Common Criteria信息安全认证体系，并从认证体系出发，探讨了侵入式分析，错误注入分析等核心攻击技术;荷兰Riscure公司介绍了激光脆弱性错误注入技术在欧洲研究现状，分析原理并指出未来错误注入技术发展方向及当前实践。

　　十二五期间，随着金融IC卡和金融IC社保卡的大力推广，可以预见到密码芯片分析和测评技术的发展及运用将进入一个快速发展的阶段。此次论坛的顺利召开，将对密码芯片分析和测评技术的快速发展起到积极的作用。