RFID世界网 > 新闻中心 > 企业动态 > 正文

香港科大射频技术应用与测试中心将亮相2008中国国际高新技术成果交易会

作者：RFID射频快报崔欣

来源：来源网络(侵权删)

日期：2008-10-08 09:33:33

摘要：2008中国国际高新技术成果交易会即将于10月12日至17日在深圳会展中心举行。作为重要的参展方，香港科技大学射频技术应用与测试中心诚邀RFID业界参观交流。

　　2008中国国际高新技术成果交易会即将于10月12日至17日在深圳会展中心举行。作为重要的参展方，香港科技大学射频技术应用与测试中心诚邀RFID业界参观交流。

　　中国国际高新技术成果交易会（简称高交会）是经国务院批准，由国家商务部、科学技术部、信息产业部、国家发展和改革委员会、教育部、人事部、国防科工委、国家知识产权局、中国科学院、中国工程院和深圳市人民政府共同主办的国家级、国际性的高新技术成果交易会，以成果交易为主要特色。

　　展览会的展品范围包括消费电子产品专区、网络通讯与设备、软件应用与解决方案及汽车娱乐电子。

　　香港科技大学射频技术应用与测试中心所在展馆：9号馆，展位号：9G16。