第三届中日韩 Auto-ID实验室技术研讨会在韩国大田举行

 2006年7月18日～19日，第三届中日韩 Auto-ID实验室技术研讨会在韩国大田市信息与通信大学（ICU）举行。复旦大学Auto-ID实验室主任闵昊教授、庆应大学Auto-ID实验室主任村井纯教授、ICU大学Auto-ID实验室主任Sang-Gug Lee教授、剑桥大学Auto-ID实验室副主任Mark Harrison以及来自各个实验室的30多位学者和学生参加了本次会议。

本次研讨会共分为RFID应用，信息安全，软件与传感器网络，硬件I和硬件II等5个板块，分别由Tatsuya Inaba、Osamu Nakamura、Mark Harrison、Sang-Gug Lee、Junyu Wang担任执行主席。会议期间，与会代表就RFID软件、硬件设计，基于RFID的商品防伪，以及EPC传感器网络和下一代电子标签设计技术进行了深入的探讨。

CJK会议由闵昊教授、村井纯教授和Sang-Gug Lee教授联合发起，至今一共举办了三届，分别在中国、日本和韩国举行。根据本次会议的讨论结果，CJK会议将继续进行下去，每4个月轮流在三个国家举行。此外，为了促进中日韩三国在RFID领域的交流，在今后的CJK会议中设置专题讨论板块，根据相关课题展开深入讨论，并将建立更加有效的信息交流和合作机制，一同推动RFID技术在亚洲的发展。

2006年7月20日～21日，在ICU大学举行了Auto-ID实验室主任/副主任会议，来自MIT、剑桥大学、阿特莱德大学、ICU大学、庆应大学、复旦大学和圣加仑大学的主任和副主任齐聚一堂，共同审定即将出版的防伪白皮书，相互介绍实验室的最新进展，并讨论了进一步的合作领域。

2006年7月21日下午，在ICU大学举行了一次面向韩国工业界的RFID研讨会，Stephen Miles (MIT)、村井纯（庆应）、闵昊（复旦）、Peter Cole（阿特莱德）、Mark Harrison（剑桥）、Florian Michahelles（圣加仑）、Jong woo Sung（ICU）分别代表7个Auto-ID实验室向与会代表介绍了各国RFID的技术和应用进展以及研究兴趣等，并回答了代表们的提问。来自工业界的30位代表（例如LG）参加了本次会议。